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一、显微镜操控规格▃

• 显↓微镜后侧有X/Y轴调节小摇轮，可调节显微镜在〓x-y方向的移动，移动范围2"X2"，精度1μm。
• 显微镜Z轴带有调焦粗旋钮和细旋钮，粗旋钮方便快ζ　速调焦，细旋钮方便精【确调焦，使显微镜在Z轴方◇向行程50.8mm，移动精度10μm。

二、台面规格

• 探针台台面平整度：5μm。
• 探针台︽台面为固定台面。

三、卡盘（载物台，即图中的chuck）规格

• 6" 卡盘，卡盘平整度：5μm，采用真空吸附方式吸附，带真空吸附孔，中心孔径250μm-1mm（可根据客户需求定制孔径大∩小），最小可以吸住尺寸为0.3mmX0.3mm，最大能够吸住尺▅寸为6"X6"。
• 卡盘可360度旋转，旋转角度可微调，微调精度为0.1度，带角度锁①定旋钮。
• 卡盘座有小摇杆，提起90度后，可以使卡盘快速线性上升4mm，在做wafer点测时→方便快速移动点测位置，同时做普通die或者decap后芯片点测时，方便※快速更换样品。
• 卡盘X，Y轴调节旋钮可以控制卡盘做X-Y方向的移动，移动范围为6"X6"，移动精度为10μm，为方便点测的稳定性，带有锁住功能如果点测6"wafer的时候，可以保证6"wafer的每一点都能够点测到。

四、性能

• 真空吸◤附卡盘：对应可选4"，6"，8"，12"产品
• 卡盘X-Y方向精确线性移动行程：6"-6"
• 线性无回差调节
• 卡盘上/下移□动行程：4mm
• 4", 6", 8", 12" 晶圆(晶圆尺寸)
• 样品尺寸: 5x5mm ~ 4" 6", 8", 12"
• 卡盘平整度: 10um
• 卡盘旋转角度：0~360°

五、附件

• 显微镜倾仰装置①
• 镀金卡盘
• 射频测试探头/电缆
• 有源探头
• 低电流/电容测试
• 高压测试
• 激光修复
• CCD/数字相机，USB接口
• 探针卡/封装/PCB板夹具
• 加热装置
• 防震桌
• 屏蔽箱